该课程是对可测试设计（DFT）内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习，学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识，更重要的是通过课堂内容及实验的讲解，可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。本课程涵盖常用的方法---扫描合成（SCAN synthesis）,内建自我测试（BIST），自动测试向量产生（automatic test pattern generation）,及错误模型（fault simulation）等，
课程依托大型SOC项目，系统介绍了在实际项目中，怎样考虑所面临的问题，并终采取有效的方法
解决测试品质及测试成本等问题。
本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师，也适合于有志于从事数字芯片设计工作，期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。

  1.理工科背景，有志于数字集成电路设计工作的学生和转行人员；
  2.需要充电，提升技术水平和熟悉设计流程的在职人员；
  3.集成电路设计企业的员工内训。

★ 可以通过培训快速进去进入IC行业的专业：

• 集成电路工程、微电子、电子与通信工程、电子科学与技术、电路与系统、

• 电子信息工程、计算机科学与技术、软件工程、

• 光学工程、控制工程、电气工程、

• 材料类、

• 物理类

• 机械类

• 化学类

• ......等理工科专业

面试笔试题详细讲解

简历打磨

模拟面试

公司内部推荐（部分公司直接安排面试）

未来职业规划

在线直播授课+服务器登录实训，也可以线下现场培训。

督导老师每天跟踪学习情况，充分调动你的学习激情。

每天有资深的IC老司机带着你学习做项目，

你唯一需要保障的只是时间和坚持。

        1、培训过程中，如有部分内容理解不透或消化不好，可免费在以后培训班中重听；
        2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供半年的技术支持。
        3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。

课程大纲：

1. VLSI test

2. DFT要点

3. DFT设计流程

4. DFT设计技巧

5. Fault model

6. ATPG

7. ATPG技巧

8. Fault simulation

9. Fault 要点

10. Fault 技巧

11. Fault 流程

12. Scan

13. 扫描技巧

14. 扫描要点

15. 扫描流程

16. JTAG

17. Logic BIST

18. Test compression

19. Memory test

20. Memory 测试要点

21. Memory测试流程

22. Memory测试技巧

23. scan chain/ BSD/BIST　概念与设计方法

24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法　向量产生与仿真)

25.BSD 基本单元和JTAG测试　

1.Scan概念及方法介绍

2.Scan实现流程及问题解决

3.Scan DRC violation讲解及解决方法

4.Scan技巧

1.BIST/MBIST 方法

2.Memory类型介绍

3.BIST solution

4.MBIST算法

5.MBIST验证

6.BIST/MBIST 技巧

   　行业背景与薪资报酬

2014年国务院发布《国家集成电路产业推进纲要》，成立集成电路投资基金1300多亿，撬动地方政府产业基金和私募基金3000多亿，根据中国半导体行业协会的统计结果，未来五年IC技术人才缺口超过20万，到2030年，产业规模将扩大5倍以上，对集成电路人才需求也将成倍增长。对于应届毕业生和想要转岗的工程师来说，从事IC相关工作是一个非常不错的选择。