某某网站欢迎您   设为首页
  加入收藏
  联系站长
           
首页 |  新闻中心 |  客服中心在线培训课程 
站内搜索

今天是:农历庚子年(鼠)八月十三

2020-9-29 星期二
 集成电路中心欢迎您!

左侧上广告

左侧下广告 width=
当前位置 >> 首页 >> 课程列表 >> DFT可测试性设计理论和实践培训班
课程编号  6
课程名称  DFT可测试性设计理论和实践培训班
开课时间  2018-6-8
原来价格  7000 元
现在价格  6800 元
是否促销  
关注程度 共有8854人关注过此课程
◇◇ 课程详 细 介 绍 ◇◇
 曙海网校远程授课培训
  
  曙海网校远程培训
优势

  为满足学员由于时间、地域的限制而无法参加曙海的培训,曙海网校远程培训应运而生,曙海的远程培训通过专门的远程上课软件,能和授课工程师实时互动,能达到和面授一样的效果。
曙海授课老师会免费提供技术支持,解答学员疑惑。

血战3个月,菜鸟也能拿高薪!

芯片设计培训
IC培训

        本课程实战演练使用Synopsys公司的DC,PT等工具,
和Cadence公司的Encounter,Virtuoso等工具,多工具联合从头至尾强化练习整个芯片的生成过程,强调实战,实战,还是实战!

        免费、无保留赠送,教学过程中使用的Synopsys公司和Cadence公司的全套工具和安装方法,而且还赠送已经在VMware Linux下安装好的Synopsys公司和Cadence公司的全套工具(这套工具非常珍贵,费了老师很多心血才全部安装好),让您随时随地,打开电脑就能进行芯片的设计和练习!

IC工具虚拟机


学员登录入口:

学员用户名:

学员密码: 
 
 报名流程
曙海报名流程查看详细报名流程请点击这儿!
上课效果试听
 
  DFT可测试性设计理论和实践培训班
   课程说明:


该课程是对可测试设计(DFT)内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习,学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识,更重要的是通过课堂内容及实验的讲解,可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。本课程涵盖常用的方法---扫描合成(SCAN synthesis),内建自我测试(BIST),自动测试向量产生(automatic test pattern generation),及错误模型(fault simulation)等,
课程依托大型SOC项目,系统介绍了在实际项目中,怎样考虑所面临的问题,并最终采取有效的方法
解决测试品质及测试成本等问题。
本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师,也适合于有志于从事数字芯片设计工作,期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。

   学费、班级规模、时长和学费(学费包含价值1万元的完全属于自己永久使用的服务器,该服务器已经包含芯片设计软件、工艺技术库和项目案例,软件可帮助你安装在自己电脑上)
★培训时长:3个月(周末上课) ★班级规模:3到5人
   工作就业
        ◆外地学员:代理安排食宿(需提前预定)
        ☆注重质量
        ☆边讲边练

        ☆合格学员免费推荐工作

        ☆合格学员免费颁发相关工程师等资格证书,提升您的职业资质
        专注高端培训12年,曙海提供的证书得到本行业的广泛认可,学员的能力
        得到大家的认同,受到用人单位的广泛赞誉。
   最新优惠
       ◆团体报名优惠措施:两人95折优惠,三人或三人以上9折优惠 。注意:在读学生凭学生证,即使一个人也优惠500元。
   质量保障

        1、培训过程中,如有部分内容理解不透或消化不好,可免费在以后培训班中重听;
        2、培训结束后,培训老师留给学员手机和Email,免费提供半年的技术支持,充分保证培训后出效果;
        3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。 ☆合格学员免费颁发相关工程师等资格证书,提升您的职业资质。专注高端培训13年,曙海提供的证书得到本行业的广泛认可,学员的能力得到大家的认同,受到用人单位的广泛赞誉。

  DFT可测试性设计理论和实践培训班
第一阶段


课程大纲:

1. VLSI test

2. DFT要点

3. DFT设计流程

4. DFT设计技巧

5. Fault model

6. ATPG

7. ATPG技巧

8. Fault simulation

9. Fault 要点

10. Fault 技巧

11. Fault 流程

12. Scan

13. 扫描技巧

14. 扫描要点

15. 扫描流程

16. JTAG

17. Logic BIST

18. Test compression

19. Memory test

20. Memory 测试要点

21. Memory测试流程

22. Memory测试技巧

23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法

24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)

25.BSD 基本单元和JTAG测试 


第二阶段 SCAN synthesis


1.Scan概念及方法介绍

2.Scan实现流程及问题解决

3.Scan DRC violation讲解及解决方法

4.Scan技巧


第三阶段 ATPG

1.ATPG介绍

2.Fault models

3.Fault simulation

4.ATPG DRC Violation的解决方法

5.ATPG patten generation

6.测试压缩及方法

7.ATPG patten验证

8.ATPG技巧
第四阶段 JTAG/1500

1.JTAG方法

2.JTAG及其扩展应用

3.JTAG实现及验证

4.JTAG技巧
第五阶段 BIST/MBIST


1.BIST/MBIST 方法

2.Memory类型介绍

3.BIST solution

4.MBIST算法

5.MBIST验证

6.BIST/MBIST 技巧


首页公司简介常见问题  
 
 
版权所有 集成电路中心  备案:沪ICP备08026168号
办公电话:4008699035 传真:021-32300767 手机:15921673576 邮箱:officeoffice@126.com 客服QQ:点击这里给我发消息
公司地址:上海市云屏路1399号26#新城金郡商务楼310室 邮编:201821
SHUHAI IC TRAINING